EN 62276:2005-12

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Einkristall-

Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Beziehungen

Enthält:

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31.05.2005 Historisch
IEC 62276:2005-05
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen- (OFW-) Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Entwurf war:

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11.03.2005 Historisch
prEN 62276:2005-03
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen- (OFW-) Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren
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15.10.2010 Historisch
FprEN 62276:2010-10
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren
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03.08.2012 Historisch
FprEN 62276:2012-08
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Ersetzt bzw. ergänzt:

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11.01.2013 Historisch
EN 62276:2013-01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62276:2005-12

IEC 62276:2005-05
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.12.2005
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 642
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

ur4zv2.wrz2v8QAuv.t53

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

Themen

Elektronik-Bauelemente
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